Inquiries探針 (Contact Probe)

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TOTOKU開發了世界最小直徑20微米的電子元件檢測用探針

隨著電子元件的小型化,電極的間距更趨精細,精細的檢測用探針的需求也日益增加。TOTOKU結合了生産Suspension Wire的直線度、表面處理和絕緣加工的獨有技術,和新開發的末端微細加工技術,開發了適合檢測精細間距電子元件的接觸式探針。

特性

  • 可以選擇端子形狀
  • 可以選擇高導電性的鎢和鈹銅
  • 可以降低接觸電阻的鍍金表面處理
  • 具有良好絕緣特性的氟樹脂絕緣塗層

構造

structure

應用

- IC封裝基板的導通檢查
- 窄間距印刷電路板的導通檢查
- 液晶面板的導通檢查
- 各種連接器的導通檢查
- 垂直式探針卡
- 多層基板的開爾文接觸電阻量測
- 功率半導體的檢查

規格

specification

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Shibata Co., Ltd.(Head Office)
TEL:+81-3-3209-1771 / FAX:+81-3-3209-9275
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